Kaoru Ishikawa, profesor Uniwersytetu Tokijskiego, opublikował założenia swojego wykresu w 1962 roku. Celem tej metody jest rozpoznanie przyczyn poniesionych lub potencjalnych niepowodzeń przedsięwzięć. Z tego powodu nazywa się ją także wykresem przyczynowo-skutkowym, a ze względu na charakterystyczny wygląd – wykresem rybiej ości. Zakres stosowania tej metody początkowo był ograniczony jedynie do przemysłu, lecz w krótkim czasie okazała się ona przydatna w wielu innych dziedzinach.
Z powodzeniem można go używać w usługach, administracji, zarządzaniu projektami.
Sporządzanie wykresu musi być wysiłkiem wielu pracowników organizacji, ponieważ przyczyny niepowodzeń mają swoje źródła zwykle w różnych dziedzinach działania. Dlatego zespół powinien składać się z ludzi o dużej wiedzy specjalistycznej, którzy dodatkowo posiadają wolę ujawnienia przyczyn wadliwości, w tym także spowodowanych przez siebie. Bardzo przydatne jest stosowanie w trakcie budowy schematu metod heurystycznych.
Budowa diagramu Ishikawy
Wykres składa się ze strzałek wraz z opisami, łączących się w ten sposób, że główna strzałka wskazuje skutek, czyli opis niepowodzenia, które jest badane. Przedstawiono to na rys.1.
Pokazane na rysunku kategorie przyczyn zwykle wybierane są z zestawu 5M:
- człowiek (Man),
- maszyna (Machine),
- materiał (Material),
- stosowana metoda (Method),
- kierownictwo (Management),
Spotyka się również inne zestawy, np. 5M+E gdzie do ww dochodzi jeszcze otoczenie (Environment) lub układ 6M gdzie do ww dochodzi pomiar (Mesurement).
Można także używać innych kategorii (np. procedury, wyposażenie, materiały, informacje, ludzie) zależnie od dziedziny, w jakiej wykres jest stosowany. Każda kategoria przyczyn jest rozbudowywana o kolejne przyczyny szczegółowe. Jeżeli zachodzi taka potrzeba, dołącza się także podprzyczyny. Rozbudowa wykresu kończy się w momencie pełnego zidentyfikowania zjawiska.
Zastosowanie diagramu Ishikawy
E. Kindlarski zaproponował stosowanie układu przedmiotowego lub technologicznego przyczyn. W pierwszym kategorie stanowią podzespoły analizowanego obiektu, a przyczyny – elementy tych podzespołów. W drugim układzie wykorzystuje się odpowiednio procesy technologiczne i operacje w tych procesach. Przykłady takich zastosowań pokazują rys. 2 i 3.
W praktyce czyste układy występują rzadko, zwykle złożoność przyczyn wymaga zastosowania układu mieszanego.
Wykorzystanie diagramu Ishikawy
Prawidłowo sporządzony wykres Ishikawy może posłużyć do stworzenia liczbowego systemu klasyfikacji wad. Liczbę znaków kodu można określić w zależności od żądanego stopnia szczegółowości. Rozpatrując fragment wykresu z rys.2 można otrzymać zestaw kodów zaprezentowany na rys. 3. W tym przypadku kod ma trzy znaki:
- pierwszy oznacza kategorię przyczyn,
- drugi oznacza przyczynę,
- trzeci oznacza podprzyczynę.
100 110 111 112 120 121 122 123 124 |
elementy elektroniczne wady elektryczne tolerancje parametry wady mechaniczne oznakowanie końcówki gabaryty średnice |
200 210 211 212 220 221 222 230 231 232 233 234 240 241 242 243 244 |
płytki drukowane nadruk przy zmianach za dużo brak otwory za duże średnice ścieżki odklejone pęknięte niedotrawienie przetrawienie oznaczenia nieczytelne pomylone brak sitodruk |
Rys.4 Przykład sporządzenia kodu
Oryginalna wersja artykułu (http://mfiles.ae.krakow.pl/pl/index.php/Wykres_Ishikawy)
Copyright (c) 2007 Sławomir Wawak, Rafał Tochman. Udziela się zezwolenia do kopiowania rozpowszechniania lub modyfikację tego dokumentu zgodnie z zasadami Licencji GNU Wolnej Dokumentacji (http://mfiles.ae.krakow.pl/modules.php?name=Guiki&MODE=SHOW&PAGE=Licencja%20M-files%20Wiki) w wersji 1.1 lub dowolnej późniejszej opublikowanej przez Free Software Foundation. Zmienione w stosunku do oryginału: sekcja „Budowa diagramu Ishikawy”, tytuły poszczególnych sekcji.